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關于UV能量計的三個為什么這就上答案UV能量計又稱UV焦耳計，是一種高品質的紫外線能量計數儀，是用來測量不同的光源在一定的條件下光照能量強弱的儀器，是生產生活中極為重要的固化質量檢測儀器，是能良好地控制和實現產品固化質量一致性的*工具。UV能量計是在生產線傳送帶上用來檢測紫外線固化裝置的UV能量的檢測儀器。檢測的目的是為了防止防止紫外燈衰減，影響紫外固化工藝。光固化中使用了外線高壓汞燈，這種儀器功率一般在幾百瓦到幾千瓦的范圍，但是目前國家計量機構的標準紫外光源的額定功率只有瓦級別。將UV能量計常見故障跟大家分享...
3-19 2020
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根據氣動量儀的特點，我們總結了儀器主要可以用于如下幾個方面根據氣動量儀的特點，我們總結了儀器主要可以用于如下幾個方面（1）孔徑，槽寬的測量，特別是深孔，小孔直徑，窄槽寬的測量，如直徑100mm長度1m的深孔的孔徑3～1mm的槽寬的測量，用一般的測量方法是非常困難，甚至不可能的，而用動測量則比較方便。（2）非接觸式測量。如表面粗糙度低，表面不允許有微小劃痕的工件的測量，，用氣動測量，可以*不接觸工件表面。（3）鋁、塑料，橡膠等軟材料的尺寸測量，這些材料由于表面硬度低，易于變靜，用一般方法的測量，測量精度很低，用氣動測量因測力很小，可以...
2-4 2020
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光澤度儀測量物體漏光導致測量偏差可能是？光澤度儀測量物體漏光導致測量偏差可能是？光澤度儀的維護過程：1、運用中應防止強光2、光澤度儀配帶有兩塊標準板。應將其維持清潔，不宜用手指觸摸外表面,如外表面有污漬則會致使儀器誤差加大，讀數不jing確。如若不小心觸摸了，則可用鏡頭紙或*擦拭。3、光澤度儀穩固性*,儀器不用常常校定,建議持續運用2小時后,再從新標定一次。4、光澤度儀設計電池運用率*,當電池運用到0.8V以下時(電池電能已耗盡)儀器讀數開端下滑,儀器顯示右上角紅色發光二極管亮,提示操作者須要替換電池,開啟儀器左側...
12-19 2019
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電子測頭是一種具有自動顯示、自動定中心功能的高精度測量儀器電子測頭是一種具有自動顯示、自動定中心功能的高精度測量儀器電子測頭是一種具有自動顯示、自動定中心功能的高精度測量儀器。次內孔測量頭使用方便.僅僅通過插入塞規就能簡單地測定內徑。電子測頭維修項目：1、三豐卡尺：出現的精度不準或貼面不平，外量爪嚴重磨損、較大間隙，推手損壞，顯示數字不全或缺畫，滑動不順、尺身磨損、深度尺磨損、部件遺失等。2、三豐千分尺：出現精度不準、貼面不平、絲桿緊或變形、線路板斷掉、部品遺失，轉動不順、顯示數據異常等-。3、三豐量表:表盤量表，出現的精度不準，指...
11-15 2019
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布氏硬度計維修應留意以下三方面布氏硬度計維修應留意以下三方面布氏硬度計維修專家（2）供電電流中有諧波；（3）制作、設備欠好，由于轉子偏疼形成氣隙不勻；（4）可拆式定子鐵心兩個半圓間有縫隙；（5）有扇形疊成的定子鐵心的拼片數目挑選不適宜。損害：使電機軸承表面或滾珠遭到腐蝕，形程點狀微孔，使軸承運轉功能惡化。摩擦損耗和添加，終究形成軸承焚毀。防止：（1）消除脈動磁通和電源諧波（如在變頻器輸出側加裝溝通電抗器）；（2）電機設計時，將滑動軸承的軸承座和底座絕緣，滾動軸承的外圈和端蓋絕緣。為什么一般電機不能用于高原...
8-16 2019
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測量顯微鏡視場直徑跟視場之間的關系測量顯微鏡視場直徑跟視場之間的關系觀察測量顯微鏡時，所看到的明亮的圓形范圍叫視場，測量顯微鏡的大小是由顯微鏡目鏡里的視場光闌決定的。視場直徑也稱視場寬度，是指在顯微鏡下看到的圓形視場內所能容納被檢物體的實際范圍。視場直徑愈大，愈便于觀察。計算視場直徑公式:F=FN/eta;，式中F:視場直徑，FN：視場數（FieldNumber,簡寫為FN，標刻在目鏡的鏡筒外側），eta;:物鏡放大率。由公式可看出：（1）視場直徑與視場數成正比。（2）增大物鏡的倍數，則視場直徑減小。因此，若...
7-18 2019
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在使用三豐千分尺前需要檢查好它是否處于良好的工作狀態在使用三豐千分尺前需要檢查好它是否處于良好的工作狀態一、三豐千分尺用前檢查1.三豐千分尺維修整體是否有污物和銹斑，如有要用棉紗部仔細擦凈。2.緊固螺釘（有的千分尺沒有）沒鎖緊時，旋轉測微螺桿，其進退是否自如，如過不靈活，則不正常，應送計量室修理。3.在測微螺桿與測砧沒有密合時，緊固螺釘也沒鎖緊，慢慢旋轉手輪，如果手輪發出“咔咔”響動聲，則不正常，應送計量室修理。4.在測微螺桿與測砧密合時，旋轉手輪，如果手輪沒有發出“咔咔”響動聲，則也不正常，應送計量室修理。5.在測微螺桿與測...
6-19 2019
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膜厚儀通常采用光干涉原理來測量薄膜厚度膜厚儀通常采用光干涉原理來測量薄膜厚度膜厚儀是薄膜厚度測量儀的簡稱，是一種用來在線并定量的測量透光或者半透光的各種薄膜厚度的儀器儀表，通常采用光干涉原理測量薄膜厚度。膜厚儀的作用可應用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層.薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發生與膜厚及折光系數等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,且快速的光學薄膜厚度測量技術,薄膜測量系統采用光干...
5-21 2019
